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OLED顯示模組壽命測試系統
OLED顯示模組壽命測試系統 平鋪式模組壽命可搭載亮度計直接量測發(fā)光膜組的真實(shí)數值，在研發(fā)和過(guò)程數據評判工作中，可起到重要作用。
更新時(shí)間：2024-06-14 訪(fǎng)問(wèn)次數：1623
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OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統
OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統 通道數量：32、64、128，可擴展到512 路；測量模式1：恒流、恒壓、恒亮度，需根據客戶(hù)需求選定
更新時(shí)間：2024-06-13 訪(fǎng)問(wèn)次數：2021
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TruetestLCD/OLED缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測系統
在本文中，我們將描述如何在全自動(dòng)測試系統中使用影像亮度色度計，在高速度、大批量的生產(chǎn)環(huán)境中識別和量化缺陷。本文內容涵蓋測試設置，以及可以執行的測試范圍 – 從簡(jiǎn)單的點(diǎn)缺陷檢測到復雜的 Mura檢測和評估。
更新時(shí)間：2024-06-13 訪(fǎng)問(wèn)次數：4132
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